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產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測試CV測試
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LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對(duì)各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
更新時(shí)間：2025-09-16
產(chǎn)品型號(hào)：LEI Model2017B
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更新時(shí)間：2025-09-16產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1245公司郵箱： qgao@buybm.com
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