產品中心
當前位置:首頁產品中心半導體材料測試半導體多功能測試
產品分類
半導體材料測試
相關文章
WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對超低溫有特殊要求的材料,比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等,它已被廣泛用于化合物材料的缺陷,雜質和光電效率等參數(shù)表征。
WT-2000提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激發(fā)光,適合Si,SiC,GaAs,CdZnTe,InGaAs等各種材料電學參數(shù)測試。
WT-1200A 是單點式少子壽命測試系統(tǒng),具備無接觸等優(yōu)點。
公司郵箱: qgao@buybm.com
服務熱線: 021-61052039
公司地址: 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved備案號:滬ICP備19020138號-2
技術支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
快速通道
推薦產品
18117546256